Rupich M.W., Li X., Zhang W., Holesinger T.G., Larbalestier D.C., Feldmann D.M., Chen Z.J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, critical current density, angular dependence, MOD process, thickness dependence, anisotropy, pinning mechanism, multilayered structures, coated conductors, experimental results, critical caracteristics, fabrication
Applied Physics Letters, 2007, v.91, N 5, p.52508
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.